OXIDATION

Hochtemperaturofen für die Oxidation von SiC sowie Pre- und Post-Oxidation Annealing

Der c.OXIDATOR Hochtemperatur-Oxidationsofen wurde speziell für die Anforderungen an die SiC-Oxidation entwickelt, kann aber auch für die Oxidation von Silizium verwendet werden. Der für die Volumenproduktion ausgelegte Ofen ist in zwei Versionen für Wafergrößen bis 200 mm erhältlich. Optional sind eine in-situ Nassoxidation sowie H2- und NH3-Annealingprozesse möglich.

Temperaturen bis 1500 °C und weitere Features eröffnen eine ganze Reihe an Möglichkeiten in der SiC-Oxidation und bei der Entwicklung von hochwertigen Gate-Oxiden mit niedriger Zustandsdichte (Dit) und hoher Kanalbeweglichkeit.

Der Prozessreaktor ist für eine hohe Leistungsfähigkeit bei geringem Platzbedarf und niedrigen Betriebskosten ausgelegt und bietet gleichzeitig höchste Prozessflexibilität. Die Konzeption von Prozessrohr und Heizelement innerhalb der Vakuumkammer garantiert einen sicheren Einsatz von toxischen und brennbaren Gasen.

Post-Oxidation Annealing (POA) in NO-, N2O- oder NH3-Atmosphäre führt zu einer verbesserten SiO2/SiC-Grenzfläche und damit zu einer höheren Kanalbeweglichkeit sowie einer verbesserten Stabilität und Langlebigkeit des Oxids auf SiC.

H2 und H2O (O2-/H2-reich) stehen zur Vor- und Nachbehandlung von thermischen und deponierten Gate-Oxiden zur Verfügung.

Durch das robuste korrosionsbeständige Design kann auch Chlor, das durch einen DCE-Bubbler bereitgestellt wird, sicher und ohne langfristige Schäden an Türverschluss und Abgasleitung eingesetzt werden. Chlor kann zur Reinigung der SiC-Prozessapparatur oder für den Prozess selbst verwendet werden.

Durch seine Vakuumfähigkeit kann c.OXIDATOR hervorragend in der Entwicklung, Optimierung und Produktion von hochwertigen thermischen Gate-Oxiden, sowie für eine Vielzahl von Vor- und Nachbehandlungen, die auch für deponierte Oxide unerlässlich sind, eingesetzt werden.      

Prozesse

  • Hochtemperaturoxidation von Siliziumcarbid und Silizium
  • Post Oxidation Annealing (POA) in NO-, N2O- oder NH3-Atmosphäre
  • Nassoxidation
  • Hochtemperatur-H2-Vorbehandlung

Optionen

  • Hydrox-System für die Nassoxidation
  • Automatisches Waferhandling

Vertrieb Halbleiter & Mikroelektronik

Tel. +49 7344 918 6794
E-Mail schreiben

Besuchen Sie uns

CS MANTECH
CS MANTECH
JW Marriott Starr Pass Resort | Tucson, Arizona, USA

Features & Benefits

  • Hohe Oxidationsrate für thermische Oxide auf SiC
  • Prozesstemperaturen von 900 bis 1500 °C
  • Hohe Oxidqualität
  • Oxidnitrierung mit NO, N2, N2O und NH3
  • O2- / H2-reiche Nassoxidation
  • H2-Annealing
  • Sichere H2/Ar und H2/N2 Formiergas-Mischung
  • In-situ DCE-Chlorreinigung
  • Kompakte Stellfläche
  • Metallfreie Heizelemente und Isolierung
  • Side-by-Side-Installation möglich
  • Automatisierte Kalibrierung
  • Profilierendes Thermoelement
Hochtemperatur-Prozess

Hochtemperatur-Prozess

Wafergrößen bis 200 mm

Wafergrößen bis 200 mm

Verbindungshalbleiter

Verbindungshalbleiter

Hinweis zur Nutzung von Cookies: Für die Bereitstellung unserer Angebote werden auf dieser Seite technisch notwendige Cookies gesetzt. Darüber hinaus verwenden wir Google Analytics für die statistische Auswertung von anonymen Nutzungsdaten zur Verbesserung unseres Angebots.
Datenschutzerklärung | Impressum

Sie befinden sich auf der Internetseite der centrotherm international AG, Blaubeuren. Wenn Sie nach der Internetseite der Centrotherm Systemtechnik GmbH, Brilon suchen, dann klicken Sie bitte hier. Wir weisen darauf hin, dass beide Unternehmen neben dieser Namensähnlichkeit keine geschäftlichen Verbindungen miteinander haben.